検索結果

検索条件

NACSIS書誌ID
BA45673212

結果一覧

表示切替
一覧で表示
サムネイルで表示
テキストで保存
  • 1
    Defect and microstructure analysis by diffraction
    書名

    Defect and microstructure analysis by diffraction

    請求記号
    459.9-Sn
    著者名
    Robert L. Snyder Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge
    叢書名
    International Union of Crystallography monographs on crystallography
    巻次
    : hbk
    出版年月日
    1999
    配架場所
    2F 洋書室
トップへ戻る